高度なAOI検査システム向けの高解像度カメラとテレセントリックレンズ
245MP CXP、150MP 10GigEカメラと精密光学系によるミクロン単位の検査精度を実現
自動光学検査(AOI)は、現代の電子機器製造、半導体生産、および精密工学において不可欠な技術となっています。製品設計が小型化し、品質要件が厳格化する中、従来のマシンビジョンシステムは、広範囲の検査エリアにおける微小な欠陥の捕捉にしばしば苦慮しています。
これらの課題に対応するため、 Rapixel Tech は、超高解像度の産業用カメラ、大型フォーマットの光学レンズ、および高精度テレセントリックレンズを組み合わせた高度なAOI画像処理ソリューションを提供し、卓越した画像の鮮明さ、測定精度、および検査の信頼性を達成します。
AOIアプリケーションにおける高解像度の重要性
AOI検査において、画像解像度は検出可能な最小の欠陥サイズを直接決定します。以下のようなアプリケーションにおいて:
- PCBはんだ接合部の検査
- ディスプレイパネルの検査
- 半導体ウェハの検査
- マイクロコンポーネントの測定
- バッテリー電極の検査
- 精密機械の検査
には、広い視野角で極めて細部まで捕捉できるカメラが必要です。従来の5MPまたは12MPカメラでは、大きな表面の検査に複数の画像や機械的スキャンが必要になる場合があります。超高解像度カメラを使用することで、製造業者は1回の露光でより多くの情報を捕捉でき、以下が向上します:
- 検査速度
- 欠陥検出能力
- 測定精度
- 生産効率
245MP CoaXPressカメラ:超高解像度AOIのための究極のソリューション
最も要求の厳しい検査アプリケーション向けに、Rapixel Techは 245MP CXP産業用カメラを推奨します。これらのカメラは、 Mars245MS-12XM/C-M72のようなモデルが、CoaXPress高速インターフェースにより、約245メガピクセルの解像度を提供します。
245MP CXPカメラの主な利点:
- 最大限の画像詳細: 顕微鏡レベルの表面欠陥、微小な傷、コンポーネントの欠落、ピクセルレベルのディスプレイ欠陥を可視化します。
- 大視野検査能力: 高ピクセル数と大型センサーフォーマットを組み合わせることで、詳細を犠牲にせずにより大きな物体の検査を可能にします。
- CoaXPressインターフェース: 高帯域伝送、安定した産業用通信、および低遅延トリガーを提供します。
150MP 10GigEおよびCXPカメラ:高性能AOI画像処理
解像度、速度、システムコストのバランスが求められるアプリケーション向けに、Rapixel Techはまた 150MPクラスの産業用カメラを推奨します。これらは、PCB検査、フラットパネル検査、品質管理システムに優れています。
150MP産業用カメラの利点:
- システムの複雑さの低減
- ネットワーク統合の容易さ(10GigE Vision)
- ハードウェア要件の削減
精密AOIにおいてテレセントリックレンズが最良の選択である理由
高解像度カメラは、同等の精度を持つ光学系と組み合わせることで初めて正確な測定結果を提供できます。テレセントリックレンズは、いくつかの理由からしばしば優先される選択肢です:
テレセントリックレンズの利点:
- ほぼゼロの視差歪み: 近い物体が大きいように見える誤りを排除し、寸法測定に不可欠です。
- 高MPカメラとのより良い適合性: 画像全体で均一な解像度、高いコントラスト、正確なエッジ定義を提供します。
- AOI再現性の向上: 24時間365日の生産ラインにおける検査の一貫性を高め、誤検出を減少させます。
高解像度エリアスキャンカメラ向け的大型フォーマットレンズ
非常に広い視野角(ソーラーパネル、広域表面検査など)の場合、大型フォーマットのマシンビジョンレンズが、高解像度センサーの像円に合わせるのに役立ちます。しかし、測定精度については、テレセントリックレンズが依然として優れています。
Rapixel Techから推奨されるAOI画像処理ソリューション
| アプリケーション | 推奨カメラ | 推奨レンズ |
|---|---|---|
| 半導体ウェハ検査 | 245MP CXPカメラ | 高精度テレセントリックレンズ |
| ディスプレイパネル検査 | 245MP CXP / 150MP 10GigEカメラ | 大型フォーマットレンズ / テレセントリックレンズ |
| PCB AOI検査 | 150MP 10GigEまたはCXPカメラ | テレセントリックレンズ |
| 精密測定 | 高解像度エリアスキャンカメラ | テレセントリックレンズ |
| 大面積表面検査 | 高MPカメラ | 大型フォーマットレンズ |

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